CTNV-2000系列，是采用封閉式X射線源的高性能成像系統(tǒng)，射線源免維護(hù)，樣品腔室可以容納大尺寸的樣品，具備拓展原位加載裝置的能力，可以選配物鏡耦合探測(cè)器實(shí)現(xiàn)大工作距離下的高分辨成像。
特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)
●? ?閉管射線源，無(wú)需耗材，維護(hù)簡(jiǎn)單
●? ?腔體尺寸較大，具備較強(qiáng)的擴(kuò)展能力
●? ?0.5μm高空間分辨率
●???多種掃描模式：螺旋、偏置、有限角等
技術(shù)指標(biāo)
??分辨率
像素細(xì)節(jié)分辨能力 | ? 1μm(平板探測(cè)器) / 50nm(物鏡耦合探測(cè)器) |
空間分辨率* | ??3μm(平板探測(cè)器) / 500nm(物鏡耦合探測(cè)器) |
?X射線源
類(lèi)型 | 閉管 |
最高電壓 | ? ?150KV |
平板探測(cè)器
成像面積 | ? ?244mm×195mm |
像素矩陣 | ? ? ?1920×1536 |
?物鏡耦合探測(cè)器
鏡頭 | ? ?4X、10X、20X |
?樣品
可檢測(cè)樣品尺寸 | ?? 400mm×300mm(直徑×高度) |
樣品承重 | ? ?15kg |
?設(shè)備物理參數(shù)
設(shè)備尺寸 | ? ?1620mm×1100mm×1700mm(長(zhǎng)×寬×高) |
設(shè)備重量 | ? ?2400kg |
?*空間分辨率可用空間分辨率測(cè)試卡進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證
▲? 技術(shù)參數(shù)為參考指標(biāo)，更多規(guī)格型號(hào)，歡迎來(lái)電咨詢(xún)
